当研究所では、過去の調査研究を踏まえながら、より作品の細部を観察すること、 取得した情報の公開を促進することを目指し、 デジタル技術を利用した画像形成技術やその他非破壊測定法の開発に関する研究を進めております。

国宝・彦根屏風は長らく屏風装を解かれた状態で、経年による損傷が進んでいたため、平成18～19(2006～07）年度に本格的な修理が行われ、屏風装に改められました。彦根城博物館と東京文化財研究所は、修理の前後に共同研究調査を実施しました。今回の調査では全体のカラー画像、近赤外線画像、蛍光画像と、470カットのマクロ画像を撮影し、394ポ イントについて蛍光Ｘ線分析測定を行いました。

  この度、彦根城博物館のご理解・ご協力を得て、当研究所閲覧室の専用端末画面上で、全ての画像とデータを閲覧に供することとなりました。このコンテンツでは、彦根屏風を細部まで詳細に観察することができ、各種画像との比較参照も可能です。
  今後、順次コンテンツを増やしていく予定です。

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